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差分黑體溫差對MRTD的影響

在MRTD測試過程中，紅外熱像儀評估系統(tǒng)通過差分黑體產(chǎn)生溫差（其中白桿為正，黑桿為負）。這些溫差經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)后被熱像儀接收，實際測量的是目標(biāo)和背景的輻射溫差。由于熱像儀接收到的信號是輻射溫差，因此它直接影響到MRTD的測試結(jié)果。

由于差分黑體的溫度傳感器存在測量誤差（如傳感器位置與輻射面之間的距離、測量準(zhǔn)確性等），因此差分黑體的實際溫度與控制器設(shè)定的溫度之間可能存在差異，導(dǎo)致溫差的測量不準(zhǔn)確，從而影響MRTD的計算結(jié)果。

 差分黑體發(fā)射率對MRTD的影響

普朗克黑體輻射理論表明，黑體的輻射主要由溫度和發(fā)射率決定。在MRTD測試中，差分黑體的溫度和發(fā)射率共同影響熱像儀接收到的輻射。然而，差分黑體的實際發(fā)射率一般低于理想的黑體發(fā)射率（通常在0.92至0.98之間）。這意味著，雖然理論上假設(shè)目標(biāo)和背景黑體的發(fā)射率為1（理想黑體發(fā)射率），但實際發(fā)射率的偏差會對輻射強度產(chǎn)生顯著影響，從而影響MRTD測量的準(zhǔn)確性。

總結(jié)

• 差分黑體溫差的不準(zhǔn)確性是MRTD測試中的一個主要誤差源，因為它直接影響到溫差的測量和MRTD的計算結(jié)果。

• 發(fā)射率的影響同樣顯著，差分黑體的實際發(fā)射率通常低于理想值，并且隨著波長的變化，發(fā)射率對輻射的影響會更大，這也會對MRTD測試結(jié)果產(chǎn)生較大的誤差。

推薦型號：INFRAMET TCB差分面源黑體

TCB系列黑體是差分面源黑體，旨在模擬低溫和適宜的常溫目標(biāo)。使用熱電元件控制散熱器溫度。黑體散熱器的絕對溫度通常從0℃至100℃可調(diào)節(jié)，但范圍可擴展到-40℃至180℃。黑體發(fā)射面（從50x50mm到500x500mm），也可以拓展到更大的發(fā)射器，高達1000x1000mm的尺寸。

用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發(fā)射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS光電測試系統(tǒng)的模塊。具有更大發(fā)射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應(yīng)用的獨立模塊提供。