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引言 

TCB系列差分面源黑體由Inframet公司研發(fā)，上海明策電子帶入中國的一類高精度差分面源黑體，專為模擬冷目標和中等溫暖目標的紅外輻射特性而設(shè)計。其核心優(yōu)勢在于卓越的溫度分辨率、時間穩(wěn)定性、溫度均勻性及低不確定性，使其成為熱像儀測試系統(tǒng)、國家標準實驗室溫度標定的理想選擇。 

 產(chǎn)品概述 

TCB差分面源黑體采用熱電元件（Peltier）控制輻射器溫度，標準絕對溫度范圍為 0°C至100°C（可擴展至 -40°C至180°C），輻射器面積覆蓋 50×50 mm至1000×1000 mm。其主要技術(shù)亮點包括： 

- 溫度均勻性：優(yōu)于0.01°C（小型輻射器）至0.02°C（大型輻射器），遠超常規(guī)黑體性能。 

- 集成化設(shè)計：控制器電子設(shè)備與黑體頭部一體化，用戶僅需連接電源和RS232/USB電纜即可通過PC控制，操作簡便且抗電磁干擾能力強。 

- 快速響應(yīng)：加熱速率最高達0.8°C/s（TCB-2D），穩(wěn)定時間最短僅需30秒。 

 可選版本與功能擴展 

為滿足多樣化需求，TCB系列差分面源黑體提供多種可選配置： 

 1. 擴展溫度范圍 

- EX選項：通過增強Peltier元件和附加加熱器，將溫度范圍擴展至 -10°C至+120°C（環(huán)境溫度20°C）。 

- HT選項：采用雙通道電子元件，支持 0°C至180°C 高溫，適用于工業(yè)高溫測試。 

 2. 極端環(huán)境適配 

- TC選項：優(yōu)化電子元件以耐受 -40°C至+70°C 的極端溫濕度，適用于氣候試驗箱內(nèi)使用。 

- LT選項（BLIQ系列）：結(jié)合液體制冷技術(shù)，可在環(huán)境溫度20°C下實現(xiàn) -40°C 低溫，但成本顯著增加。 

 3. 性能增強 

- HE選項：采用Vantalback S-VIS或Inframet專利涂層，將發(fā)射率提升至 0.99±0.005（前者高發(fā)射率但易損，后者更耐用）。 

- DRY選項：附加干燥空氣隔間，防止輻射器溫度低于環(huán)境溫度時水汽凝結(jié)，適配不同光學孔徑的熱像儀。 

 4. 特殊場景優(yōu)化 

- VAC選項：真空優(yōu)化版本（獨立型號VEB/VSB），適用于真空腔室。 

- CAB選項：支持長達300米的控制電纜，適合遠距離操作。 

- API控制：提供.NET驅(qū)動接口，支持Python、LabVIEW等編程語言，便于集成至自動化系統(tǒng)。 

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 應(yīng)用領(lǐng)域 

1. 熱像儀性能測試：小尺寸型號（如TCB-2D）廣泛用于DT/MS系統(tǒng)，驗證熱像儀的溫度靈敏度和分辨率。 

2. 實驗室標定：高均勻性和穩(wěn)定性使其成為國家標準實驗室的溫度參考源。 

3. 工業(yè)檢測：大尺寸型號（如TCB-20D）適用于汽車、航空航天領(lǐng)域的大視場紅外檢測。 

4. 科研實驗：真空或極端溫度版本支持材料熱輻射特性研究。 

 注意事項與建議 

- 環(huán)境溫度限制：絕對溫度范圍需根據(jù)環(huán)境溫度調(diào)整，避免超出設(shè)備設(shè)計極限。 

- 干燥環(huán)境需求：當輻射器溫度低于環(huán)境溫度約20°C時，建議使用DRY選項或提供干燥氣體。 

- 型號選擇：大型差分面源黑體（如TCB-20D）功耗高、成本昂貴，需根據(jù)實際需求權(quán)衡尺寸與性能。 

TCB系列差分面源黑體憑借其高精度、模塊化設(shè)計和廣泛的可選配置，在紅外輻射源領(lǐng)域樹立了行業(yè)標桿。無論是標準實驗室還是復(fù)雜工業(yè)環(huán)境，其靈活性和可靠性均可滿足多樣化需求。用戶在選擇時需綜合考慮溫度范圍、輻射器尺寸及擴展功能，以最大化設(shè)備效能。